X射線熒光光譜儀EDX9000B分析測定碳酸鹽巖石中主次痕量元素

采用粉末樣品壓片制樣,碳酸鹽巖石標(biāo)樣及人工合成標(biāo)樣為標(biāo)準(zhǔn),使用經(jīng)驗系數(shù)法及散射線內(nèi)標(biāo)法校正元素的吸收增強(qiáng)效應(yīng),用X射線光譜儀EDX9000B對碳酸鹽巖石試樣中的Na,Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Ba,Pb,La,Ce和Th等30種主次痕量元素進(jìn)行測定,其分析結(jié)果與標(biāo)樣標(biāo)準(zhǔn)值(或化學(xué)法值)符合較好,方法的精密度(RSD,n=10)<10%(除含量在檢出限附近的元素外),各元素檢出限基本滿足化探要求